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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2008.9
- 수록면
- 57 - 64 (8page)
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본 논문은 높은 압축 성능을 가진 테스트 데이터 압축 기법을 제안한다. 제안하는 기법은 돈 케어 리맵핑을 이용한 천이 추가 단계와 천이 이전 단계로 구성된다. 실험 결과는 새로운 기법이 가장 높은 성능의 기법들 중 하나인 RL-huffman보다 높은 압축률을 제공하고 더 작은 하드웨어 면적을 필요로 함을 보여준다. 따라서 이 기법은 테스트 데이터 압축을 위한 실제적인 해법으로 널리 쓰일 수 있다.
목차
요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 본론
Ⅲ. 실험결과 및 분석
Ⅳ. 결론
참고문헌
저자소개
참고문헌 (11)
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1. [학술지(정기간행물)] - A. Chandra / 2001 / System-on- a-chip test data compressionand decompression architectures based on Golomb codes / IEEE Trans. Computer-Aided Design 20 : 113 ~ 120
2. [학술대회논문] - A. Chandra / 2001 / Frequency- Directed Run-Length (FDR) codes with application to system-on-a-chip test data compression / in Proc. IEEE VLSI Test Symp. : 114 ~ 121
3. [학술대회논문] - A. El. Maleh / 2002 / Extended frequency-directed run-length codes with improved application to system-on-a-chip test data compression / in Proc. Int. Conf. Electronic Circuits Systems (ICECS’'02) : 449 ~ 452
4. [학술대회논문] - A. Jas / 1999 / Scan vector compression/decompression using statistical coding / in Proc. IEEE VLSI Test Symp : 114 ~ 121
5. [학술지(정기간행물)] - A. Jas / 2003 / An efficient test vector compression scheme using selective Huffman coding / IEEE Trans. Computer-Aided Design Integr. Circuits Syst 22 (6) : 797 ~ 806
2. [학술대회논문] - A. Chandra / 2001 / Frequency- Directed Run-Length (FDR) codes with application to system-on-a-chip test data compression / in Proc. IEEE VLSI Test Symp. : 114 ~ 121
3. [학술대회논문] - A. El. Maleh / 2002 / Extended frequency-directed run-length codes with improved application to system-on-a-chip test data compression / in Proc. Int. Conf. Electronic Circuits Systems (ICECS’'02) : 449 ~ 452
4. [학술대회논문] - A. Jas / 1999 / Scan vector compression/decompression using statistical coding / in Proc. IEEE VLSI Test Symp : 114 ~ 121
5. [학술지(정기간행물)] - A. Jas / 2003 / An efficient test vector compression scheme using selective Huffman coding / IEEE Trans. Computer-Aided Design Integr. Circuits Syst 22 (6) : 797 ~ 806
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