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저자정보
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 대한전자공학회 2009년 SoC학술대회
발행연도
2009.5
수록면
122 - 125 (4page)

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나노공정에서의 공정특성변화와 soft error에 민감하여 회로의 오동작을 초래하는 현상은 고성능 집적회로 설계 시 큰 문제점이 되고 있다. 본 논문에서는 c-element와 시간지연 필터링 기법을 적용하여 공정특성변화와 soft error에 강인한 플립플롭을 제안한다. 제안하는 플립플롭은 적은 면적과 고속의 특성을 갖으며 기존의 플립플롭에서 제공하지 못하는 PVT 및 soft error를 동시에 검출하고 정정하는 능력을 갖고 있다. HSPICE를 이용하여 65 ㎚ 공정에서 제안하는 플립플롭의 성능을 검증하였다.

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 오류감지 및 정정기능을 갖춘 DFV 플립플롭
Ⅲ. 실험결과
Ⅳ. 결론
참고문헌

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