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목차
Abstract
1. 서론
2. 검사개념과 문제정의
3. RLC 병렬회로 측정기법
4. 시뮬레이션 고찰
5. 결론
감사의 글
참고문헌
저자소개
참고문헌 (17)
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[학술지(정기간행물)] - Jon Turino / 1984.09 / Functional Testing's Place In Dlectronics Manufacturing : 58 ~ 61
[학술지(정기간행물)] - Jeff Hotchkiss / / The Roles of In-Circuit and Functional Board Test : 63 ~ 69
[학술지(정기간행물)] - K.A. Baney / 1989. / An Answer for SMT PCB's : 251 ~ 254
[학술지(정기간행물)] - Reynold / 1987.02 / In-Circuit McTesters ? or the Future of In-Circuit Test : 8 ~ 15
[학술지(정기간행물)] - Steve J Baker / / Analog-Component Faults Yield to In-Circuit Testing
[학술지(정기간행물)] - Jeff Hotchkiss / / The Roles of In-Circuit and Functional Board Test : 63 ~ 69
[학술지(정기간행물)] - K.A. Baney / 1989. / An Answer for SMT PCB's : 251 ~ 254
[학술지(정기간행물)] - Reynold / 1987.02 / In-Circuit McTesters ? or the Future of In-Circuit Test : 8 ~ 15
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