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Abstract
1. 서론
2. BiCMOS 회로의 Stuck-open 고장
3. BiCMOS 회로의 입력 패턴
4. 고장 검출을 위한 테스트 집합
5. 테스트 패턴 유도
6. 적용 예
7. 결론
참고문헌
저자소개
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BiCMOS 회로의 고장 검출을 위한 테스트 패턴 생성
대한전기학회 학술대회 논문집
2003 .07
게이트 레벨 천이고장을 이용한 BiCMOS 회로의 Stuck-Open 고장 검출 ( Detection of Stuck-Open Faults in BiCMOS Circuits using Gate Level Transition Faults )
전자공학회논문지-A
1995 .12
BiCMOS회로의 게이트 레벨 회로 변환을 이용한 Stuck-Open 고장 검출 ( Detection of Stuck-Open Faults Using Gate Level Circuit Transformation of BICMOS Circuits )
대한전자공학회 학술대회
1995 .07
BiCMOS 회로의 게이트 레벨 회로 변환을 이용한 Stuck-Open 고장 검출
대한전자공학회 학술대회
1995 .06
BiCMOS 회로에서의 Stuck-open 고장 검출을 위한 테스터블 설계 ( Testable Design for Detection of Stuck-open Faults in BiCMOS Circuits )
대한전자공학회 학술대회
1994 .11
BiCMOS 회로에서의 Stuck-open 고장 검출을 위한 테스터블 설계
대한전자공학회 학술대회
1994 .11
BiCMOS 회로의 Stuck - Open 고장과 Stuck - On 고장 검출을 위한 테스트 패턴 생성
전자공학회논문지-C
1997 .01
고속 풀 스윙 BiCMOS ( HF-BiCMOS ) 회로의 고장특성 및 테스트 방식 ( Fault Characteristics and Testing Techniques of a High Speed Full-Swing BiCMOS ( HF-BiCMOS ) Circuits )
대한전자공학회 학술대회
1998 .11
BiCMOS 회로의 고장 분석과 테스트 용이화 설계 ( Fault Analysis and Testable Design for Bicmos Circuits )
전자공학회논문지-A
1994 .10
Detection of Stuck-Open Faults in BiCMOS Circuits using Equivalent Gate-level Models
ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications
1996 .01
전류 경로 그래프를 이용한 BiCMOS회로의 단락고장 검출 ( On the Detection of Short Faults in BiCMOS Circuits using Current Path Graph )
전자공학회논문지-A
1996 .02
테스트가 용이한 BiCMOS회로의 설계및 테스팅 기법 ( A Testable Design and Testing Techniques for BiCMOS Circuits )
대한전자공학회 학술대회
1993 .11
새로운 형태의 BiCMOS 구동회로 ( New Type BiCMOS Drivers )
전자공학회논문지
1989 .02
BiCMOS기술의 현황과 전망 ( Trends of Bicmos Technology )
한국통신학회 워크샵
1986 .01
새로운 BiCMOS 반전기에 대한 연구 ( A Study of Newly BiCMOS Inverter )
대한전자공학회 학술대회
1990 .01
새로운 BiCMOS 영상소자에 관한 연구 ( A Study on New BiCMOS Image Sensor )
대한전자공학회 학술대회
1992 .11
BiCMOS를 이용한 온도 센서 시스템의 설계
전기학회논문지 C
2003 .08
고속 풀 스윙 BiCMOS회로의 설계 ( Design of High Speed Full-Swing BiCMOS Circuit )
대한전자공학회 학술대회
1990 .07
70V Bicmos 소자의 공정개발에 관한 연구
대한전자공학회 학술대회
1991 .06
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