BiCMOS회로의 게이트 레벨 회로 변환을 이용한 Stuck-Open 고장 검출 ( Detection of Stuck-Open Faults Using Gate Level Circuit Transformation of BICMOS Circuits )

안철회 ,  이광훈 ,  이재웅 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1995 .07

BiCMOS 회로의 게이트 레벨 회로 변환을 이용한 Stuck-Open 고장 검출

안철희 ,  이광훈 ,  이재웅 외 7명

대한전자공학회 학술대회

1995 .06

BiCMOS 회로에서의 Stuck-open 고장 검출을 위한 테스터블 설계 ( Testable Design for Detection of Stuck-open Faults in BiCMOS Circuits )

차용철 ,  이재웅 ,  이광훈 외 8명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

BiCMOS 회로에서의 Stuck-open 고장 검출을 위한 테스터블 설계

차용철 ,  이재웅 ,  이광훈 외 8명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

Detection of Stuck-Open Faults in BiCMOS Circuits using Equivalent Gate-level Models

Jae Heung Shin ,  Keun Jang Ryoo ,  Yong Min Hu 외 2명

ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1996 .01

BiCMOS 회로의 Stuck - Open 고장과 Stuck - On 고장 검출을 위한 테스트 패턴 생성

신재흥 ,  임인칠

전자공학회논문지-C

1997 .01

BiCMOS 회로의 Stuck-Open 고장 검출을 위한 테스트 패턴 생성

申載興

전기학회논문지 P

2004 .03

BiCMOS 회로의 고장 검출을 위한 테스트 패턴 생성

신재흥 ,  이병효 ,  김일남 외 1명

대한전기학회 학술대회 논문집

2003 .07

단일 테스트 모드를 이용한 CMOS 회로내의 Stuck-Open 고장 검출 ( Fault Detection of CMOS Stuck-Open Fault Using Single Test Mode )

조완교 ,  김영호 ,  노승룡 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1992 .01

CMOS회로의 Stuck-Open 고장을 위한 테스트 생성 ( Test Generation for Stuck-Open Faults in CMOS Circuits )

이철원 ,  이재민 ,  한석붕 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1986 .01

Stuck-Open 고장 검출이 용이한 단일 테스트 패턴 생성 ( Generate Single Test Pattern for Stuck-Open Fault in CMOS )

김영호 ,  조완교 ,  조석현 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1991 .11

전류 경로 그래프를 이용한 BiCMOS회로의 단락고장 검출 ( On the Detection of Short Faults in BiCMOS Circuits using Current Path Graph )

신재흥 ,  임인칠

전자공학회논문지-A

1996 .02

CMOS 회로의 Stuck-open 고장에 대한 Built-In Self Test ( Built-In Self Test for Stuck-open Faults of CMOS Circuits )

송석훈 ,  김훈기 ,  김윤홍 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1989 .07

BiCMOS 회로의 고장 분석과 테스트 용이화 설계 ( Fault Analysis and Testable Design for Bicmos Circuits )

서경호 ,  이재민

전자공학회논문지-A

1994 .10

고속 풀 스윙 BiCMOS ( HF-BiCMOS ) 회로의 고장특성 및 테스트 방식 ( Fault Characteristics and Testing Techniques of a High Speed Full-Swing BiCMOS ( HF-BiCMOS ) Circuits )

정광선 ,  이금원 ,  이재민

대한전자공학회 학술대회

1998 .11

신경회로망을 이용한 CMOS 회로의 Stuck-open 고장 테스트 생성 ( Test Generation for the Stuck-open Faults of CMOS Circuits Using Neural Networks )

백준 ,  이종한 ,  이재민

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

CMOS 회로의 Stuck-open 고장검출을 위한 로보스트 테스트 생성 ( Robust Test Generation for Stuck-Open Faults in CMOS Circuits )

정준모 ,  임인칠

전자공학회논문지

1990 .11

CMOS PLA 설계 및 Stuck-Open 고장 검출 ( A Simplified CMOS PLA and Stuck-Open Faults Detection )

김용두 ,  조상복 ,  임인칠

대한전자공학회 학술대회

1985 .01

A Built-In Self Test Technique for Stuck-Open Faults of CMOS Circuits

In Chil Lim ,  Yun Hong Kim ,  Jun Mo Jung

International Conference on Electronics, Informations and Communications

1991 .01

CMOS PLA의 Stuck-Open 고장검출을 위한 Built-In 테스트 ( Built-In Test for Detection of Stuck-Open Faults in CMOS PLAs )

정준모 ,  임인칠

전자공학회논문지-B

1991 .06