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We have investigated dielectric polarization in organic light-emitting diodes using 8-hydroxyquinoline aluminum (Alq₃) as an electron transport and emissive material. We analyzed the dielectric polarization of organic light-emitting diodes using characteristics of impedance and equivalent circuit of ITO/Alq₃/Al. Impedance characteristics was measured complex impedance Z and phase θ in the frequency range of 1×40 ㎐ to 1×10? ㎐. We obtained complex electrical conductivity, dielectric constant, and loss tangent (tanδ) of the device at room temperature. And, we obtained the equivalent circuit of ITO/Alq₃/Al through analyzing dielectric constant and dielectric loss tangent. From these analyses, we could interpret a conduction mechanism and dielectric polarization.
목차
Abstract
1. 서론
2. 실험
3. 결과 및 고찰
4. 결론
감사의 글
참고문헌
저자소개
참고문헌 (9)
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1. [학술지(정기간행물)] - C. W. Tang / 1987 / Organic electroluminescent diodes / Appl. Phys. Lett 51 (12) : 913 ~
2. [단행본] - 電氣學會通信敎育會 / 1980 / 誘電體現象論 / 日本電氣學會 : 120 ~ 130
3. [학술지(정기간행물)] - P. W. M. Blom / 1996 / Electron and hole transport in poly(p-phenylene vinylene) devices / Appl. Phys. Lett 68 (23) : 3308 ~ 3310
4. [학술지(정기간행물)] - Z.-L. Zhang / 1997 / Stability enhancement of organic electroluminescent diode through buffer layer or rubrene doping in hole- transporting layer / Synth. Met 91 : 131 ~ 132
5. [학술지(정기간행물)] - T. Reis / 2004 / Electrical characterization of ITO/CuPc/Al diodes using temperature dependent capacitance spectroscopy and I-V measurements / J. Non-Crystalline Solids 338-340 : 599 ~
2. [단행본] - 電氣學會通信敎育會 / 1980 / 誘電體現象論 / 日本電氣學會 : 120 ~ 130
3. [학술지(정기간행물)] - P. W. M. Blom / 1996 / Electron and hole transport in poly(p-phenylene vinylene) devices / Appl. Phys. Lett 68 (23) : 3308 ~ 3310
4. [학술지(정기간행물)] - Z.-L. Zhang / 1997 / Stability enhancement of organic electroluminescent diode through buffer layer or rubrene doping in hole- transporting layer / Synth. Met 91 : 131 ~ 132
5. [학술지(정기간행물)] - T. Reis / 2004 / Electrical characterization of ITO/CuPc/Al diodes using temperature dependent capacitance spectroscopy and I-V measurements / J. Non-Crystalline Solids 338-340 : 599 ~
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