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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
조성근 (전북대학교) 양성모 (전북대학교) 유효선 (전북대학교)
저널정보
한국생산제조학회 한국생산제조학회지 한국생산제조시스템학회지 Vol.20 No.2
발행연도
2011.4
수록면
187 - 192 (6page)

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UBM(Under Bump Metallurgy) is very important for successful realization of Flip-Chip technology. In this study, it is investigated the interfacial reactions between various Sn-Ag solder alloys and Ni-P/Au UBM and Cu plate finish. It is also evaluated the shear strength by using the micro shear-punch test method for Sn-37Pb alloy, binary and ternary alloys of environment-friendly Pb-free solder alloys which are applied in the electronic packages. In terms of interfacial microstructure, the Pb-free solder joints have thicker IMCs than the Sn-Pb solder joints. The thickness of IMC is related to Reflow time. The IMC has been observed to grow with the increase in Reflow time. As a result of the shear test, in case of Max. shear strength, Pb-free solder showed the highest strength value and Sn-37Pb showed the lowest strength value to be generally condition of Reflow time.

목차

Abstract
1. 서론
2. 시험편 제작 및 실험 방법
3. 실험 결과 및 고찰
4. 결론
참고문헌

참고문헌 (8)

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