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학술대회자료
저자정보
오순영 (충남대학교) 지희환 (충남대학교) 배미숙 (충남대학교) 윤장근 (충남대학교) 김용구 (충남대학교) 황빈봉 (충남대학교) 박영호 (충남대학교) 이희덕 (충남대학교) 왕진석 (충남대학교)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 대한전자공학회 2003년 하계종합학술대회
발행연도
2003.7
수록면
671 - 674 (4page)

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이 논문의 연구 히스토리 (4)

2003

Co-interlayer와 TiN capping을 적용한 니켈실리사이드 의 0.1㎛ CMOS 소자 특성연구
오순영 ,  지희환 ,  배미숙 외 6명 대한전자공학회 학술대회 2003.07 학술대회자료

1996

δ 도핑된 Si0.8Ge0.2 0.13㎛ pMOSFET 소자 특성 조사
오순영 ,  남령진 ,  조남인 대한전자공학회 학술대회 1996.11 학술대회자료
δ 도핑된 Si0.8.Ge0.2 0.13μm PMOSFET 소자 특성 조사 ( Characterization of δ- Doped Si0.8.Ge0.2 0.13μm PMOSFETs )
오순영 ,  남형진 ,  조남인 대한전자공학회 학술대회 1996.11 학술대회자료
Si0.8Ge0.2 전도채널을 이용한 0.13mm p-MOSFET소자의 특성 연구 ( Characterization of Si0.8Ge0.2 0.13mm p-MOSFET Devices )
오순영 ,  구경환 ,  남형진 외 1명 대한전자공학회 워크샵 1996.01 학술대회자료

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목차

Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 실험 방법
Ⅲ. 실험결과 및 고찰
Ⅴ. 결론
Acknowledgments
참고문헌

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