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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
이영규 (과학기술연합대학원대학교) 고용호 (한국생산기술연구원) 유세훈 (한국생산기술연구원) 이창우 (한국생산기술연구원)
저널정보
대한용접·접합학회 대한용접·접합학회지 大韓熔接·接合學會誌 第29卷 第6號
발행연도
2011.12
수록면
65 - 70 (6page)

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The effect of flip chip bonding parameters on formation of intermetallic compounds (IMCs) between Au stud bumps and Sn-3.5Ag solder was investigated. In this study, flip chip bonding temperature was performed at 260℃ and 300℃ with various bonding times of 5, 10, and 20 sec. AuSn, AuSn₂ and AuSn₄ IMCs were formed at the interface of joints and (Au, Cu)?Sn? IMC was observed near Cu pad side in the joint. At bonding temperature of 260℃, AuSn₄ IMC was dominant in the joint compared to other Au-Sn IMCs as bonding time increased. At bonding temperature of 300℃, AuSn2 IMC clusters, which were surrounded by AuSn₄ IMC, were observed in the solder joint due to fast diffusivity of Au to molten solder with increased bonding temperature. Bond strength of Au stud bump joined with Sn-3.5Ag solder was about 23 gf/bump and fracture mode of the joint was intergranular fracture between AuSn2 and AuSn4 IMCs regardless bonding conditions.

목차

Abstract
1. 서론
2. 실험 방법
3. 결과 및 고찰
4. 결론
후기
참고문헌

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