메뉴 건너뛰기
.. 내서재 .. 알림
소속 기관/학교 인증
인증하면 논문, 학술자료 등을  무료로 열람할 수 있어요.
한국대학교, 누리자동차, 시립도서관 등 나의 기관을 확인해보세요
(국내 대학 90% 이상 구독 중)
로그인 회원가입 고객센터 ENG
주제분류
인문학
인문학 일반 역사학 철학 종교학 어문학 기타 인문학
사회과학
사회과학 일반 경영학 관광학 교육학 군사학 문헌정보학 법학 사회학 신문방송학 심리과학 정치외교학 지리학 행정학 경제학 무역학 인류학 기타 사회과학
자연과학
자연과학 일반 물리학 생물학 생활과학 수학·통계학 천문학 지구과학 화학 기타 자연과학
공학
공학 일반 건축공학 기계공학 산업공학 재료·에너지공학 전기전자공학 조선해양공학 화학공학 컴퓨터학 기타공학
의약학
의학 일반 간호학 수의학 약학 한의학 기초의학 임상의학 기타 의약학
농수해양학
농수해양학 일반 농학 수산학 식품과학 임학 축산학 해상운송학 기타 농수해양학
예술체육학
예술 일반 디자인 미술 미용 사진 음악학 의상 체육 공연매체예술 기타 예술체육학
복합학
학제간연구 과학기술학 뇌인지과학 기술정책 기타 복합학

ENG

추천
검색
질문

논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
정상훈 (전북대학교) 이남호 (한국원자력연구원) 이민수 (한국과학기술원) 조성익 (전북대학교)
저널정보
대한전기학회 전기학회논문지 전기학회논문지 제61권 제3호
발행연도
2012.3
수록면
422 - 426 (5page)

이용수

표지
📌
연구주제
📖
연구배경
🔬
연구방법
🏆
연구결과
AI에게 요청하기
추천
검색
질문

초록· 키워드

오류제보하기
Transient radiation is emitted during a nuclear explosion. Transient radiation causes a fatal error in the CMOS circuit as a Upset and Latch-up. In this paper, transient radiation NMOS, PMOS, INVERTER SPICE model was proposed on the basisi of transient radiation effects analysis using TCAD(Technology Computer Aided Design). Photocurrent generated from the MOSFET internal PN junction was expressed to the current source and Latch-up phenomenon in the INVERTER was expressed to parasitic thyristor for the transient radiation SPICE model. For example, the proposed transient radiation SPICE model was applied to CMOS NAND circuit.. SPICE simulated characteristics were similar to the TCAD simulation results. Simulation time was reduced to 120 times compared to TCAD simulation.
#CMOS #TCAD #Latch-up #Transient Radiation Effects (TRE)

목차

Abstract
1. 서론
2. SPICE 모델을 위한 TCAD 분석
3. 과도방사선 SPICE 모델 및 응용 예
4. 시뮬레이션 및 고찰
5. 결론
감사의 글
참고문헌
저자소개

참고문헌 (5)

참고문헌 신청
1. [인터넷자원] - Larry L. / / NUCLEAR EVENT DETECTOR google schola 2. [단행본] - George C Messenger / 1992 / The effects of radiation on electronic systems / Van Nostrand Reinhold, cop. google schola 3. [단행본] - Lewis Cohn / 1996 / Transient Radiation Effects on Electronics(TREE) Handbook / Defence Nuclear Agency google schola 4. [학술지(정기간행물)] - Ahlbin, J. / 2011 / Effect of Multiple -Transistor Charge Collection on Single-Event Transient Pulse Widths / Device and Materials Reliability, IEEE Transactions (99) : 1 ~ google schola 5. [학술지(정기간행물)] - Daisuke Kobayashi / 2009 / Device-Physics-Based Analytical Model for Single-Event Transients in SOI CMOS Logic / NUCLEAR SCIENCE, IEEE Transactions 56 (6) : 3043 ~ 3049 google schola

이 논문의 저자 정보

이 논문과 함께 이용한 논문

우주용 ADC의 누적방사선량 영향 분석
김태효 ,  이희철 전자공학회논문지 2013 .06
즉발감마선에 의한 상용전자소자의 피해현상분석 연구
오승찬 ,  이남호 ,  이흥호 전기학회논문지 2012 .10
저전력 동작을 위한 지연된 피드-포워드 경로를 갖는 3차 시그마-델타 변조기
이민웅 ,  이종열 전자공학회논문지 2014 .10
전자소자의 과도방사선피해 평가체계 구축 연구
이남호 ,  황영관 ,  김종열 외 2명 한국정보통신학회논문지 2012 .10
전투원 신체 주변 통신기기의 인체 노출량 분석
서민경 ,  최증원 ,  고종환 외 3명 한국전자파학회논문지 2013 .01

최근 본 자료

전체보기

댓글(0)

0

UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2013-560-001524630