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저자정보
이남호 (한국원자력연구원) 황영관 (한국원자력연구원) 김종열 (한국원자력연구원) 정상훈 (한국원자력연구원) 오승찬 (한국원자력연구원)
저널정보
한국정보통신학회 한국정보통신학회논문지 한국정보통신학회논문지 제16권 제10호
발행연도
2012.10
수록면
2,329 - 2,334 (6page)

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본 논문에서는 초기 핵 펄스방사선에 대한 군 무기체계내의 반도체 소자에 대한 피해를 분석하기 위해 피해평가 모델개발 연구를 수행하였다. 우선 핵 펄스방사선을 입력신호로 모델링하고 물성과 구조특성에 따라 정밀하게 모델로 구현한 다이오드 소자에 인가하여 소자내부에서 생성되는 전하들의 거동을 모사하고 출력특성을 분석하였다. 구축한 펄스방사선 피해 평가모델의 신뢰성 검증을 위해서 모델링한 소자와 동일한 공정변수로 제작한 다이오드 소자에 대해 유사한 특성의 펄스 방사선을 조사하고 출력전압의 순간 변화량을 실측하는 실험을 진행하였다. 실험결과 얻은 실측값은 동일소자의 모델에 대한 입력 펄스방사선의 출력 시뮬레이션 결과와 22.9%의 오차를 보여 개발한 피해평가 모델을 통해 핵 펄스방사선의 전자소자 피해현상을 비교적 정확히 모사하고 있음을 확인할 수 있었다.
#펄스방사선 #피해현상 #평가체계 #평가모델 #감마방사선 #선량율 #Pulse Radiation #Damage Effect #Assessment System #Analysis Model #Gamma-Radiation #Dose rate

목차

요약
ABSTRACT
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 본론
Ⅲ. 결론
참고문헌

참고문헌 (8)

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1. [학술지(정기간행물)] - George C. Messenger / 1986 / Transient Radiation Effects on Electronics / IEEE Trans. Nuclear Science 33 (5) : 1125 ~ google schola 2. [학술지(정기간행물)] - Mohamed N. Darwish / 1988 / Radiation Effects on Power Integrated Circuits / IEEE Trans. Nuclear Science 35 (6) : 1547 ~ 1551 google schola 3. [학술지(정기간행물)] - Chugg, A.M. / 1994 / Ionising Radiation effects: a vital issue for semiconductor electonics / Engineering Science and Education Journal 3 (3) : 123 ~ 130 google schola 4. [인터넷자원] - / / http://www.nasa.gov/ google schola 5. [인터넷자원] - / / http://www.sandia.gov/ google schola

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