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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 발행연도
- 2008.11
- 수록면
- 354 - 357 (4page)
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Accurate on-chip voltage measurement using direct probing is proposed. Series resistors and probing pads with floated ground are fabricated on-chip, and high-frequency probes and a digital oscilloscope is utilized off the chip. Compensation procedure of the non-ideal frequency response of the probing system is defined to improve wideband fidelity. The proposed measurement technique is experimentally applied to obtaining switching noise waveform on the power-supply network of an output buffer circuit. The measurement also demonstrated that the probing system has very small impact on the device under measurement.
목차
Abstract
Ⅰ. INTRODUCTION
Ⅱ. DIRECT ON-CHIP PROBING TECHNIQUE
Ⅲ. APPLICATION EXAMPLE
Ⅳ. CONCLUSION
ACKNOWLEDGEMENTS
REFERENCES
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