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피로수명과 가공공차를 고려한 수직형 탐침의 형상 설계에 관한 연구
한국소성가공학회 학술대회 논문집
2010 .05
Comparison of ECT Probes in Diagnosis of Defects
Journal of Electrical Engineering & Technology
2014 .01
Plus(+) Point Probe를 이용한 용접부 와전류검사
비파괴검사학회지
1999 .12
고밀도 프로빙 테스트를 위한 수직형 프로브카드의제작 및 특성분석
전기전자재료학회논문지
2006 .01
Non-invasive direct probing for on-chip voltage measurement
대한전자공학회 ISOCC
2008 .11
4 축 정밀 제어를 이용한 저 저항 측정
한국정밀공학회 학술발표대회 논문집
2013 .10
면적 저항 측정을 위한 Four Point Probe 자동화 시스템의 구현 ( Automatic System Development of 4-Point Probe for Sheet Resistance Measurement )
대한전자공학회 학술대회
1990 .01
Effects of Position of Auxiliary Probe on Ground Resistance Measurement Using Fall-of-Potential Method
International Journal of Safety
2008 .01
원전 증기발생기 세관 검사를 위한 와전류 탐상 프로브의 현황 및 전망
한국정보통신설비학회 학술대회
2006 .01
고속 유동 내 입자 Sampling 용 Probe 개발
한국기계가공학회 춘추계학술대회 논문집
2016 .10
Fabrication of Silicon Micro-Probe for Vertical Probe Card Application
International Conference on Electronics, Informations and Communications
1998 .01
반도체 Wafer Test 시 Probe Mark 정밀도 향상 방안 연구
한국정밀공학회 학술발표대회 논문집
2012 .05
Development of an Ultrasonic Probe with Measurement of Contact Pressure Distribution
제어로봇시스템학회 국제학술대회 논문집
2006 .10
고온에서 전기적인 Wafer 특성 검사 시 Probe Mark 변화 연구
대한기계학회 춘추학술대회
2012 .11
채널의 효율적인 사용을 위한 Line Probing 기술
한국정보과학회 학술발표논문집
1997 .04
채널의 효율적인 사용을 위한 Line Probing 기술 ( Line Probing Techniques for Efficient Channel Utilization )
대한전자공학회 학술대회
1997 .01
접촉으로 인한 ZnO nanowire의 파손특성 고찰
한국정밀공학회 학술발표대회 논문집
2011 .06
Wafer Test 공정에서 Probing error 의 전기적 검출 방법에 관한 연구
한국정밀공학회 학술발표대회 논문집
2010 .05
Analysis of Probe Current in Scanning Electron Microscopy
제어로봇시스템학회 국제학술대회 논문집
2008 .10
프로브 카드 니들 접촉저항 측정 시스템 개발
Proceedings of KIIT Conference
2015 .06
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