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논문 기본 정보
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- Korean Institute of Information Scientists and Engineers 한국정보과학회 학술발표논문집 한국정보과학회 2012한국컴퓨터종합학술대회 논문집 제39권 제1호(A)
- 발행연도
- 2012.6
- 수록면
- 74 - 76 (3page)
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반도체 공정은 웨이퍼를 제작할 때 오류가 발생할 경우 웨이퍼 전체를 사용하지 못하는 손실이 발생한다. 이로 인해 반도체 공정제어 소프트웨어는 높은 품질을 요구하고 있다. 반도체 공정제어 소프트웨어를 위한 테스트의 중요성도 높아졌다. 하지만 반도체 공정제어 공정제어 소프트웨어 테스트는 대상이 되는 프로그램에 따라 테스트 스크립트의 변화가 많다. 이로 인해 테스트 스크립트 작성의 비용이 높으며, 이미 작성된 스크립트의 재사용이 어렵다. 이 ... 전체 초록 보기
목차
요약
1. 서론
2. 관련연구
3. 테스트 스크립트 관리 기법
4. 평가
5. 결론 및 향후 연구
참고문헌
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