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박두호 (건국대학교) 김영균 (현대로템) 김봉원 (현대로템) 안효철 (현대로템) 신원 (건국대학교) 장천현 (건국대학교)
저널정보
Korean Institute of Information Scientists and Engineers 한국정보과학회 학술발표논문집 한국정보과학회 2012한국컴퓨터종합학술대회 논문집 제39권 제1호(B)
발행연도
2012.6
수록면
214 - 216 (3page)

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BIT(Built-in Test)란 소프트웨어와 하드웨어의 기능 및 상태를 진단하고 오류에 대응하기 위한 방법론으로 빠른 오류 대처가 있어야 하는 다앙한 분야에서 사용되고 있다. 현업에서의 BIT는 도메인의 특성에 따라 고려해야 하는 요소가 많으므로 각 도메인에 맞춰 구조화되지 않은 형태로 개발되고 있다. 따라서 기존 개발 방법론은 반복적인 작업이 수반되며 적용 환경 및 상활에 따라 변화하는 부분을 매번 새로 개발하기 위해 많은 ... 전체 초록 보기

목차

요약
1. 서론
2. BIT 개발 과정의 문제점 및 해결방안
3. 효율적인 BIT 개발을 위한 프로세스 개선 방안
4. 결론 및 향후 연구
5. 참고문헌

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