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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 발행연도
- 2014.11
- 수록면
- 1,711 - 1,714 (4page)
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전자 기술의 급속한 발전으로 항공전자 장비에 요구되는 요구 수준도 복잡해지고, 고도화 되어 가고 있다. 또한 항공기에서 항공전자체계가 차지하는 전체 비용은 약 30%에 육박하고 있으며, 그 비중은 점차 증가 추세에 있다. 이러한 변화 속에서 항공전자 장비의 무결성 및 신뢰성이 매우 중요시 되고 있다. 위와 같은 흐름에 따라 전자장비의 심각한 결함 및 오동작 가능성을 낮추기 위하여 내장 자체 테스트(BIT) 또는 점검장비 개발, TPS(Test Program Set) 개발 등의 많은 연구가 진행되고 있다. 본 논문은 무인기 항공 전자 장비인 FLCC, MC 의 내장 자체 테스트(BIT) 항목 식별 및 각 항목에 대한 BIT 설계와 전자장비 각 모듈에 대한 주요 결함, 일반 결함 식별 및 결함 수준에 따른 처리 방법에 대해 제안하였다.
목차
초록
ABSTRACT
1. 서론
2. Built-In-Test
3. FLCC BIT 항목, 주요 결함 식별
4. MC BIT 항목, 주요 결함 식별
5. BIT 설계 및 주요 결함 처리 방식
6. 결론 및 향후 연구 방향
참고문헌
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