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In this paper, proposed NED(nuclear event detectors) for detection of a transient radiation. Nuclear event detector was blocked of power temporary for defence of critical damage at a electric device when a induced transient radiation. Conventional NED consist of BJT, resistors and capacitors. The NED supply voltage of 5V and MCM(Multi Chip Module) structures. The proposed NED were designed for low supply voltage using 0.18um CMOS process. The response time of proposed NED was 34.8ns. In addition, pulse radiation experiments using a electron beam accelerator, the output signal has occurred.
목차
Abstract
1. 서론
2. 핵폭발 검출기 설계
3. 핵폭발 검출기 제작 및 전기적 특성
3. 펄스방사선 시험 및 고찰
3. 결론
References
참고문헌 (5)
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1. [단행본] - George C Messenger / 1992 / The effects of radiation on electronic systems / Van Nostrand Reinhold, cop.
2. [단행본] - Lewis Cohn / 1996 / Transient Radiation Effects on Electronics(TREE) Handbook / Defence Nuclear Agency
3. [인터넷자원] - Larry L. / / NUCLEAR EVENT DETECTOR
오승찬, 이남호, 이흥호. 즉발감마선에 의한 상용전자소자의 피해현상분석 연구. 전기학회논문지. 2012
이남호, 황영관, 김종열, 정상훈, 오승찬. 전자소자의 과도방사선피해 평가체계 구축 연구. 한국정보통신학회논문지. 2012
2. [단행본] - Lewis Cohn / 1996 / Transient Radiation Effects on Electronics(TREE) Handbook / Defence Nuclear Agency
3. [인터넷자원] - Larry L. / / NUCLEAR EVENT DETECTOR
오승찬, 이남호, 이흥호. 즉발감마선에 의한 상용전자소자의 피해현상분석 연구. 전기학회논문지. 2012
이남호, 황영관, 김종열, 정상훈, 오승찬. 전자소자의 과도방사선피해 평가체계 구축 연구. 한국정보통신학회논문지. 2012
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