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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
홍원식 (전자부품연구원) 오철민 (전자부품연구원)
저널정보
대한용접·접합학회 대한용접·접합학회지 大韓熔接·接合學會誌 第31卷 第3號
발행연도
2013.6
수록면
22 - 30 (9page)

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Due to ELV banning, automotive electronics cannot use four kinds of heavy metal element (Pb, Hg, Cd, Cr<SUP>6+</SUP>) from 2016. Therefore, this study was focused on degradation characteristics of Sn-3.0Ag-0.5Cu Leadfree solder joint with OSP and ENIG finsh under various reliability assessment method, as like to thermal shock test and high temeprature/high humidity test with test duration for cabin electronics. Also, we compared bonding strength degradation to other advanced research results of electronic control unit for engine room because of difference service temperature with mount location in automotive. Whisker growth phenomenon and mitigation method which were essentially consideration items for Pb-free car electronics were examined. Conformal coating is a strong candidate for mitigating whisker growth in automotive electronics. Necessary condition to adapt Pb-free in car electronics was shown.

목차

Abstract
1. 서론
2. 실험방법
3 결과 및 고찰
4. 결론
참고문헌

참고문헌 (25)

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