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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
김민성 (창원대학교) 김려연 (창원대학교) 학문초 (창원대학교) 하판봉 (창원대학교) 김영희 (창원대학교)
저널정보
한국정보통신학회 한국정보통신학회논문지 한국정보통신학회논문지 제17권 제10호
발행연도
2013.10
수록면
2,359 - 2,368 (10page)

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논문에서는 power IC에서 파워가 ON되어있는 동안 입력 신호인 RD(Read) 신호 포트에 glitch와 같은 신호 잡음이 발생하더라도 파워-업(power-up)시 readout된 DOUT 데이터를 유지하면서 다시 읽기 모드로 재진입하지 못하도록 막아주는 IRD(Internal Read Data) 회로를 제안하였다. 그리고 pulsed WL(Word-Line) 구동방식을 사용하여 differential paird eFuse OTP 셀의 read 트랜지스터에 수 십 μA의 DC 전류가 흐르는 것을 방지하여 blowing 안된 eFuse 링크가 EM(Electro-Migration)에 의해 blowing되는 것을 막아주어 신뢰성을 확보하였다. 또한 program-verify-read 모드에서 프로그램된 eFuse 저항의 변동을 고려하여 가변 풀-업 부하(variable pull-up load)를 갖는 센싱 마진 테스트 기능을 수행하는 동시에 프로그램 데이터와 read 데이터를 비교하여 PFb(pass fail bar) 핀으로 비교 결과를 출력하는 회로를 설계하였다. 0.18㎛ 공정을 이용하여 설계된 8-비트 eFuse OTP IP의 레이아웃 면적은 189.625㎛ × 138.850㎛(=0.0263㎟)이다.

목차

요약
ABSTRACT
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 회로설계
Ⅲ. 모의실험 및 레이아웃 결과
Ⅳ. 결론
REFERENCES

참고문헌 (6)

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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2014-550-002756854