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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
김택구 (서울과학기술대학교) 김주한 (서울과학기술대학교)
저널정보
Korean Society for Precision Engineering Journal of the Korean Society for Precision Engineering Journal of the Korean Society for Precision Engineering Vol.32 No.1
발행연도
2015.1
수록면
75 - 81 (7page)

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Modeling and analysis using a ray tracing method for internal defects were described. Reflection and refraction of rays on the interface of defects were modeled using the Harvey model and the Lambertian model. The diffraction on the interface of defects affected the incoming signals and it could evaluate any defects in the matter and its signal would be analyzed with the ray tracing simulation. The simulation results were compared with actual detecting signals and the ray tracing model was shown in good agreement with experimental data. This method has a possibility to be used as wave propagation modeling in non-destructive testing.

목차

1. 서론
2. 배경이론
3. 실험방법
4. 시뮬레이션 및 실험결과
5. 결론
REFERENCES

참고문헌 (13)

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