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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
김진겸 (한양대학교) 최성호 (한양대학교) 윤성희 (한양대학교) 장경영 (한양대학교) 신완순 (국방과학연구소)
저널정보
대한기계학회 대한기계학회 논문집 A권 대한기계학회논문집 A권 제39권 제1호
발행연도
2015.1
수록면
105 - 109 (5page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

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고출력 레이저에 의한 영상 센서의 손상 분석 연구를 수행하였다. 고출력 레이저에 의한 금속의 손상에 관한 연구는 많이 이루어져 있지만, 상대적으로 고출력 레이저에 취약한 영상 시스템의 손상 연구는 미비한 상태이다. 본 논문에서는 CMOS 영상 센서에 고출력 레이저가 조사 되었을 때, 영상 센서가 받는 손상에 대해 실험적으로 분석하였다. 고출력 레이저 소스로는 근적외선대역의 연속발진 광섬유 레이저를 사용하였으며, 레이저 세기와 조사시간에 따른 CMOS 영상 센서의 영구적 손상 및 영상 품질을 분석하였다. 그 결과 조사시간과 레이저세기가 증가함에 따라 먼저 색상 손상이 나타나고 이후 작동 불능 상태가 되었으며, 이러한 손상은 조사시간보다 레이저 세기에 더 큰 영향을 받는 것으로 나타났다.

목차

초록
Abstract
1. 서론
2. CMOS 영상 센서
3. 실험 방법
4. 실험 결과
5. 결론
참고문헌(References)

참고문헌 (9)

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