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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
김진완 (숭실대학교) 장훈 (숭실대학교)
저널정보
대한전자공학회 전자공학회논문지 전자공학회논문지 제51권 12호
발행연도
2014.12
수록면
72 - 82 (11page)

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이 논문의 연구 히스토리 (3)

2014

TLC NAND-형 플래시 메모리 내장 자체테스트
김진완 ,  장훈 전자공학회논문지 2014.12 학술저널
MLC NAND-형 Flash Memory 내장 자체 테스트에 대한 연구
김진완 ,  김태환 ,  장훈 전자공학회논문지 2014.03 학술저널
TLC NAND-형 플래시 메모리 내장 자체 테스트
김진완 컴퓨터학과(일원) 2014.01 학위논문

초록· 키워드

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최근 스마트폰, 태블릿 PC, SSD(Solid State Drive)의 보급률 증가로 메모리 반도체 산업시장의 규모는 지속적으로 증가하고 있다. 또한 최근 SSD시장에 TLC NAND-형 플래시 메모리 제품의 출시로 인해 TLC NAND-형 플래시 메모리의 수요가 점차 증가할 것으로 예상된다. SLC NAND 플래시 메모리는 많은 연구가 진행되었지만 TLC NAND 플래시 메모리는 연구가 진행되지 않고 있다. 또한 NAND-형 플래시 메모리는 고가의 외부장비에 의존하여 테스트를 하고 있다. 따라서 본 논문은 기존에 제안된 SLC NAND 플래시 메모리와 MLC NAND 플래시 메모리 테스트 알고리즘을 TLC NAND 플래시 메모리에 맞게 알고리즘과 패턴을 수정하여 적용하고 고가의 외부 테스트 장비 없이 자체 테스트 수행이 가능한 구조를 제안한다.
#Memory Test #Built-in Self Test #NAND Flash #SoC

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 본론
Ⅲ. 제안하는 방법
Ⅳ. 실험
Ⅴ. 결론
REFERENCES

참고문헌 (19)

참고문헌 신청
1. [학술지(정기간행물)] - Pavan P / 1997 / Flash memory cells—.an overview / Proc IEEE 85 (8) : 1248 ~ 1271 google schola 2. [단행본] - Joe E. Brewer / 2008 / Nonvolatile MEmory Technologies with Emphasis on Flash / Institute of Electrical and Engineers google schola 3. [보고서] - Advantech / 2009 / Comparing SLC and MLC Flash Technologies and Structure google schola 4. [학술대회논문] - Eitan Yaakobi / 2012 / Characterization and Error-Correcting Codes for TLC Flash Memories / International Conference on Computing, Networking and Communications, Data Storage Technology and Applications Symposium : 486 ~ 491 google schola 5. [학술대회논문] - S. Kchiu / 2002 / Diagonal Test and Diagnostic Schemes for Flash Memories / Proceedings of International Test Conference : 37 ~ 46 google schola

이 논문의 저자 정보

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