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A Built-In Self Test Technique for Stuck-Open Faults of CMOS Circuits
International Conference on Electronics, Informations and Communications
1991 .01
CMOS회로의 Stuck-Open 고장을 위한 테스트 생성 ( Test Generation for Stuck-Open Faults in CMOS Circuits )
대한전자공학회 학술대회
1986 .01
신경회로망을 이용한 CMOS 회로의 Stuck-open 고장 테스트 생성 ( Test Generation for the Stuck-open Faults of CMOS Circuits Using Neural Networks )
대한전자공학회 학술대회
1994 .11
CMOS PLA의 Stuck-Open 고장검출을 위한 Built-In 테스트 ( Built-In Test for Detection of Stuck-Open Faults in CMOS PLAs )
전자공학회논문지-B
1991 .06
단일 테스트 모드를 이용한 CMOS 회로내의 Stuck-Open 고장 검출 ( Fault Detection of CMOS Stuck-Open Fault Using Single Test Mode )
대한전자공학회 학술대회
1992 .01
CMOS 회로의 Stuck-open 고장검출을 위한 로보스트 테스트 생성 ( Robust Test Generation for Stuck-Open Faults in CMOS Circuits )
전자공학회논문지
1990 .11
Stuck-Open 고장 검출이 용이한 단일 테스트 패턴 생성 ( Generate Single Test Pattern for Stuck-Open Fault in CMOS )
대한전자공학회 학술대회
1991 .11
CMOS PLA 의 Stuck-Open 고장에 대한 테스트 생성 ( Test Generation for Stuck-Open Faults in CMOS PLA )
대한전자공학회 학술대회
1985 .01
CMOS PLA 설계 및 Stuck-Open 고장 검출 ( A Simplified CMOS PLA and Stuck-Open Faults Detection )
대한전자공학회 학술대회
1985 .01
CMOS 논리회로의 Multiple Stick-Open 고장 검출 ( The Multiple Stuck-Open Fault Detection in CMOS Logic Circuits )
대한전자공학회 학술대회
1989 .11
신경 회로망을 이용한 CMOS 회로의 stuck-open 고장 테스트 생성
대한전자공학회 학술대회
1994 .11
A BUILT-IN SELF TEST TECHNIQUE FOR STUCK-OPEN FAULTS OF CMOS CIRCUITS
ICEIC : International Conference on Electronics, Informations and Communications
1991 .08
CMOS PLA의 Stuck-open 故障에 대한 테스트 生成
대한전자공학회 학술대회
1985 .06
BiCMOS 회로의 Stuck - Open 고장과 Stuck - On 고장 검출을 위한 테스트 패턴 생성
전자공학회논문지-C
1997 .01
Tri-state Inverter와 Switch Array를 이용한 CMOS Stuck-Open 고장 검출
대한전자공학회 학술대회
1990 .11
Tri-State Inverter와 Switch Array를 이용한 Cmos Stuck-Open 고장 검출 ( Detection of Cmos Stuck-Open Fault Using Tri-state Inverter & Switch Array )
대한전자공학회 학술대회
1990 .11
CMOS 테스트를 위한 Built-In Self-Test 회로 설계 ( A Built-In Self-Test Method for CMOS Circuits )
전자공학회논문지-B
1992 .09
Self - Test가 용이한 CMOS 논리회로 설계
한국정보과학회 학술발표논문집
1990 .10
게이트 레벨 천이고장을 이용한 BiCMOS 회로의 Stuck-Open 고장 검출 ( Detection of Stuck-Open Faults in BiCMOS Circuits using Gate Level Transition Faults )
전자공학회논문지-A
1995 .12
BiCMOS 회로의 게이트 레벨 회로 변환을 이용한 Stuck-Open 고장 검출
대한전자공학회 학술대회
1995 .06
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