테스트가 용이한 CMOS 순서 PLA의 설계

이종철 ,  임재윤 ,  한석붕 외 2명

대한전기학회 학술대회 논문집

1987 .07

테스트가 용이한 순서 CMOS PLA의 설계 ( Testable Design of Sequential NMOS PLAs )

정수성 ,  이철원 ,  한석붕 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1987 .07

테스트가 용이한 순서 NMOS PLA의 설계

정수성 ,  이철원 ,  한석붕 외 2명

대한전기학회 학술대회 논문집

1987 .07

C 언어를 이용한 CMOS PLA의 설계 ( Design of CMOS PLA Using C Language )

차균현 ,  케빈카플러스

전자공학회지

1984 .09

테스트가 용이한 PLA 설계방식과 테스트 생성 ( Easily Testable Design and Test Generation for PLA`s )

김은성 ,  조상복 ,  임인칠

대한전자공학회 학술대회

1984 .01

테스트가 용이한 CMOS-1 Level Array Logic 의 설계 방식과 테스트 생성 ( easily Testable Design and Test Generation for the CMOS-1 Level Array Logic )

이중호 ,  허영도 ,  조상복

대한전자공학회 학술대회

1989 .01

전류모드 CMOS 다치 PLA 설계

임동민 ,  신부식 ,  김흥수

대한전자공학회 학술대회

1995 .12

전류모드 CMOS 다치 PLA 설계 ( The Design of Current-Mode CMOS Multiple-Valued PLA )

임동민 ,  신부식 ,  김흥수

대한전자공학회 학술대회

1995 .11

고속 다이나믹 CMOS PLA의 설계 ( Design of a High-Speed Dynamic CMOS PLA )

김윤홍 ,  임인칠

전자공학회논문지-B

1991 .11

고장 검출이 용이한 Domino CMOS PLA 설계 ( Testable Design of Domino CMOS PLA )

정준모 ,  한석붕 ,  김윤홍 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1987 .11

다이나믹 CMOS PLA의 Built-In 테스트 방식

정종구 ,  김유인 ,  박상욱 외 5명

대한전자공학회 학술대회

1991 .06

다이나믹 Cmos Pla의 Built-In 테스트 방식 ( A Built-In Testing Method for Dynamic Cmos Pla’s )

정종구 ,  김유인 ,  박상욱 외 5명

대한전자공학회 학술대회

1991 .07

Delay Testing의 용이성을 고려한 Sequential PLA의 Testable Design ( Testable Design of Sequential PLA ` s Including Delay Testing )

이종철 ,  임인칠

대한전자공학회 학술대회

1984 .01

CMOS PLA의 Stuck-Open 고장검출을 위한 Built-In 테스트 ( Built-In Test for Detection of Stuck-Open Faults in CMOS PLAs )

정준모 ,  임인칠

전자공학회논문지-B

1991 .06

부가회로가 간단한 PLA의 Testable Design ( An Easily Testable Design of PLA`s with Simple Additional Circuits )

김은성 ,  임인칠

대한전자공학회 학술대회

1984 .01

측정이 쉬운 순서 논리회로의 설계에 관한 연구 ( A Study on the Design for the Easily Testable Sequential Circuits )

김연숙 ,  김용득

대한전자공학회 학술대회

1983 .01

다중고장 테스트가 가능한 PLA설계 ( A Testable PLA's Design for Multiple Faults )

이재민 ,  김은성 ,  임인칠

전자공학회논문지

1986 .09

Built-In 자체 테스트 방식을 이용한 PLA 설계 ( A Testable PLA Design Using Built-In Self-Testing Techniques )

이기혁 ,  김유인 ,  신재흥 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1991 .11

CMOS 회로에 대한 테스트 생성 방법 ( A Test Generation Method for CMOS Circuits )

정준모 ,  장원학 ,  임인칠

대한전자공학회 학술대회

1988 .11

CMOS 회로의 테스트 생성 알고리즘 ( A Test Generation Algorithm for CMOS Circuits )

조상복 ,  임인칠

전자공학회지

1984 .11