SOC Test Compression Scheme Sharing Free Variables in Embedded Deterministic Test Environment

Wang Weizheng; Cai Shuo; Xiang Lingyun

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자료유형: 학술저널

저자정보: Wang Weizheng (Changsha University of Science and Technology) Cai Shuo (Changsha University of Science and Technology) Xiang Lingyun (Changsha University of Science and Technology)

저널정보: 대한전자공학회 JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE Journal of Semiconductor Technology and Science Vol.15 No.3

발행연도: 2015.6

수록면: 397 - 403 (7page)

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This paper presents a new SOC test compression scheme in Embedded Deterministic Test (EDT) compression environment. Compressed test data is brought over the TAM from the tester to the cores in SOC and decompressed in the cores. The proposed scheme allows cores tested at the same time to share some test channels. By sharing free variables in these channels across test cubes of different cores decompressed at the same time, high encoding efficiency is achieved. Moreover, no excess control data is required in this scheme. The ability to reuse excess free variables eliminates the need for high precision in matching the number of test channels with the number of care bits for every core. Experimental results obtained for some SOC designs illustrate effectiveness of the proposed test application scheme.

#SOC testing #test data compression #linear decompression #parallel test #tester channel

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[학술지(정기간행물)] - Marinissen, E.J / 2002 / The role of test protocols in automated test generation for embedded-corebased system ICs / J. Electron. Test., Theory Appl 18 (4) : 435 ~ 454

[학술지(정기간행물)] - J. Rajski / 2004 / Embedded deterministic test / IEEE Trans. CAD 23 (5) : 776 ~ 792

[학술지(정기간행물)] - V. Iyengar / 2002 / Test wrapper and test access mechanism cooptimization for system-on-chip / J. Electron. Test., Theory Appl 18 (2) : 213 ~ 230

[학술지(정기간행물)] - G. Giles / 2008 / Test access mechanism for multiple identical cores / Proc ITC, paper 2 (3)

[학술대회논문] - M. Agrawal / 2014 / Test-time optimization in NOC-based manycore SOCs using multicast routing / Proc. of IEEE VLSI Test Symposium : 276 ~ 281

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