Compression-Friendly Low Power Test Application Based on Scan Slices Reusing

Wang Weizheng; Wang JinCheng; Cai Shuo; Su Wei; Xiang Lingyun

추천

검색

질문

자료유형: 학술저널

저자정보: Wang Weizheng (Changsha University of Science and Technology) Wang JinCheng (Changsha University of Science and Technology) Cai Shuo (Changsha University of Science and Technology) Su Wei (Nanjing Audit University) Xiang Lingyun (Changsha University of Science and Technology)

저널정보: 대한전자공학회 JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE Journal of Semiconductor Technology and Science Vol.16 No.4

발행연도: 2016.8

수록면: 463 - 469 (7page)

이용수

📌

연구주제

📖

연구배경

🔬

연구방법

🏆

연구결과

초록· 키워드

오류제보하기

This paper presents a compression-friendly low power test scheme in EDT environment. The proposed approach exploits scan slices reusing to reduce the switching activity during shifting for test scheme based on linear decompressor. To avoid the impact on encoding efficiency from resulting control data, a counter is utilized to generate control signals. Experimental results obtained for some larger ISCAS’89 and ITC’99 benchmark circuits illustrate that the proposed test application scheme can improve significantly the encoding efficiency of linear decompressor.

#Test compression #low power #linear decompression #embedded deterministic test

참고문헌 (24)

참고문헌 신청

[학술대회논문] - Milewski S / 2014 / Low Power Test Compression with Programmable Broadcast-Based Control / Proc. of IEEE Asian Test Symposium : 174 ~ 179

[학술대회논문] - S. Almukhaizim / 2008 / Peak power reduction through dynamic partitioning of scan chains / Proc. of IEEE ITC, paper 9 : 2 ~

[학술지(정기간행물)] - S. M. Saeed / 2014 / Design for Testability Support for Launch and Capture Power Reduction in Launch-Off-Shift and Launch-Off-Capture Testing / IEEE Transactions on Very Large Scale Integration Systems 22 (3) : 516 ~ 521

[학술대회논문] - Q. Xu / 2007 / Pattern-directed circuit virtual partitioning for test power reduction / Proc. of IEEE ITC, paper 25 : 2 ~

[학술지(정기간행물)] - V. P. Dabholkar / 1998 / Techniques for minimizing power dissipation in scan and combinational circuits during test application / IEEE Trans. CAD 17 : 1325 ~ 1333

함께 읽어보면 좋을 논문

논문 유사도에 따라 DBpia 가 추천하는 논문입니다. 함께 보면 좋을 연관 논문을 확인해보세요!

이 논문의 저자 정보

Wang Weizheng

소속기관 Changsha University of Science and Technology

주요연구분야 공학 > 전기전자공학 > 전자공학

논문수 3 이용수 20

Wang JinCheng

소속기관 Changsha University of Science and Technology

주요연구분야 공학 > 전기전자공학 > 전자공학

논문수 1 이용수 3

Cai Shuo

소속기관 Changsha University of Science and Technology

주요연구분야 공학 > 전기전자공학 > 전자공학

논문수 4 이용수 36

Su Wei

소속기관 Nanjing Audit University

주요연구분야 공학 > 전기전자공학 > 전자공학

논문수 1 이용수 3

Xiang Lingyun

소속기관 Changsha University of Science and Technology

주요연구분야 공학 > 전기전자공학 > 전자공학

논문수 3 이용수 20

최근 본 자료

전체보기

UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2017-569-001108871

구분	그룹	데이터 항목
AI 학습용 데이터	원문	원문 PDF 파일
AI 학습용 데이터	원문 + 메타 (기본/상세)	원문 PDF 파일 및 서지정보 CSV
대량 구매용 데이터	B2B 구독 방식	특정 자료 한정으로 원문 접근 권한 부여
대량 구매용 데이터	URL 전달 방식	바로 PDF 뷰어를 열람할 수 있는 URL 제공

구분	그룹	데이터 항목
AI 학습용 데이터	기본 메타	발행기관명, 간행물명, 권호명, 권(vol), 호(issue), 통권, 발행연도, 발행월, 논문명, 저자명, 시작페이지, 종료페이지, 전체페이지, 상세페이지URL
상세 메타 데이터	발행기관 메타	발행기관 이명, 영문명, 창립연도, 홈페이지URL, 발행기관 소개
	간행물 메타	부제목, 간행물 유형, ISSN, ISBN, 최초발행연도, 폐간연도, 간행빈도, 발행주기, 등재사항, 이용수, 피인용수, 권호수, 논문수, 표지이미지
	논문 메타	작성 언어, 부제목, 대등제목, 목차, 키워드, 초록, 이미지, 참고문헌, 이용수, 피인용수, 논문활용도, DBpia통합주제분류, KDC분류, DDC분류, 한국연구재단분류, UCI, DOI
	저자 메타	소속기관, 소속부서, 직급, 연구분야, 연구키워드, 이용수, 피인용수, 저자 논문활용도

구분	그룹	데이터 항목
※ 결합형/맞춤형 메타 데이터는 신청 내용에 따라 다양하게 제공 가능
이용순위 정보	주제분야별 많이 이용된 논문	“인문학”에서 많이 이용된 논문 TOP100
	이용기관별 많이 이용된 논문	“중고등학교”에서 많이 이용된 논문 TOP100
	세부기관별 많이 이용된 논문	“서울대학교”에서 많이 이용된 논문 TOP100
	키워드별 많이 이용된 논문	“Chat GPT”에서 많이 이용된 논문 TOP100
키워드 정보	많이 이용된 키워드	특정기간/분야/저널 내 많이 이용된 키워드
	많이 발행된 키워드	특정기간/분야/저널 내 많이 발행된 키워드
	많이 검색된 키워드	특정기간/분야/저널 내 많이 검색된 키워드
	연구 트렌드 키워드	특정 키워드 연관 연구동향 분석 데이터 키워드

논문 기본 정보

초록· 키워드

AI 요약

연구주제

연구배경

연구방법

연구결과

주요내용

목차

참고문헌 (24)

함께 읽어보면 좋을 논문

이 논문의 저자 정보

최근 본 자료

댓글(0)