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Purpose: The purpose of this study is the analysis of the failure mechanisms effect of circuit design characteristics of the ballast for LED Lamp.
Methods: Recently, electronic circuit of ballasts for LED lamp are being occurred on various failure mechanisms (whiskers, ion migration, heat dissipation problem, switching element damage) because electronic ballast circuit design characteristics are becoming more and more diverse.
Results: we analysis failure mechanisms that occurs in accordance with the circuit design characteristics The ballast for LED lamp were divided into three different types (Type A, Type B, Type C) considering circuit design characteristics (thermal design, PCB patten spacing, element material) and it was experimented in the acceleration test conditions (85℃, 85% R.H).
Conclusion: We confirmed that failure mechanism of the ballast for LED Lamp had occurred differently in accordance with the circuit design characteristics.
Methods: Recently, electronic circuit of ballasts for LED lamp are being occurred on various failure mechanisms (whiskers, ion migration, heat dissipation problem, switching element damage) because electronic ballast circuit design characteristics are becoming more and more diverse.
Results: we analysis failure mechanisms that occurs in accordance with the circuit design characteristics The ballast for LED lamp were divided into three different types (Type A, Type B, Type C) considering circuit design characteristics (thermal design, PCB patten spacing, element material) and it was experimented in the acceleration test conditions (85℃, 85% R.H).
Conclusion: We confirmed that failure mechanism of the ballast for LED Lamp had occurred differently in accordance with the circuit design characteristics.
목차
1. 서론
2. 주요 고장현상 및 원인
3. 실험 설계
4. 시험 및 결과
5. 결론
References
참고문헌 (8)
참고문헌 신청
[기타자료] - / 1999 / IEC 60319 (1999). Presentation and specification of reliability data for electronic components
[학위논문] - Jang, I. H. / 2016 / A study on the design and analysis of degradation test for LED lamp SMPS / PhD / Chosun University
[학술지(정기간행물)] - 전태보 / 2007 / 형광등용 전자식 안정기의 신뢰성 모형 / 품질경영학회지 35 (2) : 27 ~ 36
[학술지(정기간행물)] - 장인혁 / 2016 / PCB의 이온-마이그레이션에 영향을 미치는 주요요인 / 신뢰성 응용연구 16 (3) : 202 ~ 207
[학술지(정기간행물)] - 이덕보 / 2005 / PCB 전기적 신뢰성평가를 위한 이온 마이그레이션 가속시험 / 한국동력기계공학회지 9 (1) : 64 ~ 69
[학위논문] - Jang, I. H. / 2016 / A study on the design and analysis of degradation test for LED lamp SMPS / PhD / Chosun University
[학술지(정기간행물)] - 전태보 / 2007 / 형광등용 전자식 안정기의 신뢰성 모형 / 품질경영학회지 35 (2) : 27 ~ 36
[학술지(정기간행물)] - 장인혁 / 2016 / PCB의 이온-마이그레이션에 영향을 미치는 주요요인 / 신뢰성 응용연구 16 (3) : 202 ~ 207
[학술지(정기간행물)] - 이덕보 / 2005 / PCB 전기적 신뢰성평가를 위한 이온 마이그레이션 가속시험 / 한국동력기계공학회지 9 (1) : 64 ~ 69
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