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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 저널정보
- 대한전자공학회 JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE Journal of Semiconductor Technology and Science Vol.17 No.4
- 발행연도
- 2017.8
- 수록면
- 543 - 551 (9page)
- DOI
- 10.5573/JSTS.2017.17.4.543
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SOL (Short, Open and Load) calibration based on iterative error sensitivity is proposed in this paper. With advanced SOL calibration, unknown parasitic parameters at on-chip terminations are accurately estimated up to 20 GHz. Artificial terminations are designed on printed circuit board (PCB) to experiment the proposed method. On-chip SHORT, OPEN and LOAD fabricated inside silicon shows the accuracy of proposed calibration method through the comparison with known fixture Sparameter after de-embedding.
목차
Abstract
I. INTRODUCTION
II. SOL CALIBRATION
III. ITERATIVE ERROR CHECK
IV. EXPERIMENTAL MEASUREMENT
V. CONCLUSION
REFERENCES
참고문헌 (10)
참고문헌 신청
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