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이상욱 (한국과학기술원) 김현웅 (한국과학기술원) 안장용 (한국과학기술원) 김홍석 (한국과학기술원) 안승영 (한국과학기술원)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 2023년도 대한전자공학회 하계학술대회 논문집
발행연도
2023.06
수록면
112 - 115 (4page)

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In this paper, we propose a method for de-embedding the parasitic elements of the pad and via-hole in the test fixture for accurate impedance measurement of multi-layer ceramic capacitor(MLCC). Since MLCC is measure measured mounted on the test fixture, the parasitic effect of the test fixture should be eliminated from the measurement result. The existing de-embedding methods can de-embed the access line of the test fixture, but the effects of pads and via-holes using open and short fixtures. In this paper, the impedance of short bar and MLCC are extracted through simulation and measurements and compared and analyzed with the 2x thru de-embedding method. In addition, the effects of the error due to the parasitic components of the MLCC on the system are analyzed based on the power distribution network analysis.

목차

Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 본론
Ⅲ. 제안한 방법의 검증 및 논의
Ⅳ. 결론
참고문헌

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