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저자정보
박승화 (한양대학교) 이동희 (한양대학교) 오선혜 (한양대학교) 김혜연 (한양대학교) 김정숙 (한양대학교) 최병도 (유니트론)
저널정보
대한산업공학회 대한산업공학회지 대한산업공학회지 제43권 제5호
발행연도
2017.10
수록면
388 - 396 (9page)
DOI
10.7232/JKIIE.2017.43.5.388

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Radio Frequency (RF) repeater is a wireless device which transmits signal from base transceiver station to mobile station. Local RF repeater is operating only in one frequency band, whereas international RF repeater is operating in several frequency bands. For this reason, quality inspection for international RF repeater is complex and its cost is also high compared with local RF repeater. To overcome this difficulty, we propose an algorithm for the quality inspection of the international RF repeater. The proposed method is based on multiple linear regression analysis and ensures the quality of the whole bands by using only few metrology data. We build prediction models for the whole bands of RF repeater by using proposed method. In this procedure, we suggest a linear programming model to resolve multicollinearity issues which are common in quality inspection for RF repeater. We ensure the utility of the proposed method through some case studies.
#RF Repeater #Multiple Linear Regression #Multicollinearity

목차

1. 서론
2. 문헌 조사
3. 알고리즘 개발
4. 사례 연구
5. 결론
참고문헌

참고문헌 (12)

참고문헌 신청
[단행본] - Jeon, C. / 2012 / Applied statistics for engineers / Hongrung Publishing Company google schola [학술지(정기간행물)] - Jung, S. / 2012 / Economic evaluation of defect prediction system using virtual metrology / Journal of Business Research 31 (4) : 245 ~ 267 google schola [학술지(정기간행물)] - 강필성 / 2011 / Virtual metrology for run-to-run control in semiconductor manufacturing / EXPERT SYSTEMS WITH APPLICATIONS 38 (3) : 2508 ~ 2522 google schola [학술지(정기간행물)] - Kang, P. / 2009 / A virtual metrology system for semiconductor manufacturing / Expert Systems with Applications 36 (10) : 12554 ~ 12561 google schola [학술지(정기간행물)] - 김보건 / 2010 / 유전알고리즘과 커널 부분최소제곱회귀를 이용한 반도체 공정의 가상계측 모델 개발 / 산업공학(IE interfaces) 23 (3) : 229 ~ 238 dbpia

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