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저자정보
Dooyoung Kim (Hanyang University) M. Adil Ansari (Hanyang University) Jihun Jung (Hanyang University) Jinuk Kim (Hanyang University) Sungju Park (Hanyang University)
저널정보
대한전자공학회 JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE Journal of Semiconductor Technology and Science Vol.18 No.2
발행연도
2018.4
수록면
218 - 226 (9page)
DOI
10.5573/JSTS.2018.18.2.218

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Scan flip-flop based physically unclonable function (SCAN-PUF) has been proposed to protect integrated circuits (ICs) from security threats such as unauthorized access and IC cloning. In this paper, we propose an efficient SCAN-PUF technique that improves the uniqueness of responses with low cost overhead. The proposed SCAN-PUF first determines an optimal number of power-up state observations and then selects scan flip-flops as the PUF elements (P-ELEMENTs) through a given number of observations. A Bayesian model is adopted to evaluate the reliability of the P-ELEMENTs, and a grouped PELEMENT selection method is introduced to obtain more P-ELEMENTs than a predetermined threshold. To evaluate the proposed SCAN-PUF, we observed the power-up states of scan flip-flops from 15 chips fabricated using the 65-nm CMOS technology. The optimal number of observations is determined according to the reliability of the P-ELEMENTs, and the reliability, randomness, and uniqueness of the responses are then analyzed.
#Bayesian theorem #counterfeit ICs #hardware security #physically unclonable function #scan design

목차

Abstract
I. INTRODUCTION
II. RELATED WORKS
III. PROPOSED SCAN-PUF TECHNIQUE
IV. EXPERIMENTAL RESULTS
V. CONCLUSIONS
REFERENCES

참고문헌 (20)

참고문헌 신청
D. Parker and C. Thomas, “Winning share in automotive semiconductor,” McKinsey on Semiconductors, no. 3, pp. 34-41, Oct., 2013. X. Wang, Y. Zheng, A. Basak, and S. Bhunia, “IIPS: Infrastructure IP for secure SoC design,” in IEEE Transactions on Computers, vol. 64, no. 8, pp. 2226-2238, Aug., 2015. SIA Anti-Counterfeiting Task Force, “Winning the battle against counterfeit semiconductor products,” White Paper, Semiconductor Industry Association, pp. 4-8, Aug., 2013. J. Villasenor and M. Tehranipoor, “The hidden dangers of chop?shop electronics,” IEEE Spectrum, Sep., 2013. B. Gassend, D. Clarke, M. van Dijk, and S. Devadas, “Silicon physical random functions,” 9th ACM Conference on Computer and Communications Security, pp. 148-160, 2002.

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