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학술저널
저자정보
Young-Maan Cho (Hanyang University) Jae-ho Rhee (Hanyang University) Ji-Eun Baek (Hanyang University) Kwang-Cheol Ko (Hanyang University)
저널정보
대한전기학회 Journal of Electrical Engineering & Technology Journal of Electrical Engineering & Technology Vol.13 No.4
발행연도
2018.7
수록면
1,752 - 1,758 (7page)

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In a low-voltage distribution system, the molded case circuit breaker (MCCB) is a widely used device to protect loads by interrupting over-current; however the hot gas generated from the arc discharge in the interrupting process depletes the dielectric recovery strength between electrodes and leads to re-ignition after current-zero. Even though the circuit breaker is ordinarily tripped and successfully interrupts the over-current, the re-ignition causes the over-current to flow to the load again, which carries over the failure interruption. Therefore, it is necessary to understand the dielectric recovery process and the dielectric recovery voltage of the MCCB. To determine these characteristics, a measuring system comprised of the experimental circuit and source is implemented to apply controllable recovery voltage and over-current. By changing the controllable recovery voltage, in this work, re-ignition is driven repeatedly to obtain the dielectric recovery voltage V-t curve, which is used to analyze the dielectric recovery strength of the MCCB. A measuring system and an evaluation technique for the dielectric recovery strength of the MCCB are described. By using this system and method, the measurement to find out the dielectric recovery characteristics after current-zero for readymade products is done and it is confirmed that which internal structure of the MCCB affects the dielectric recovery characteristics.
#Dielectric recovery strength #Implementation of a measuring system #Molded case circuit breaker (MCCB) #Current limitation effect

목차

Abstract
1. Introduction
2. Measurement System and Method
3. Experiment Results
4. Conclusion
References

참고문헌 (12)

참고문헌 신청
J. Li, Z. Guan, L. Wang, H. Yang, J. Zhou, “An experimental study of AC arc propagation over a contaminated surface,” IEEE Trans. Dielectr. Electr. Insul, vol. 19, no. 4, pp. 1360-1368, 2012. M. K. Zadeh, V. Hinrichsen, R. Smeets, A. Lawall, “Field emission currents in vacuum breakers after capacitive switching,” IEEE Trans. Dielectr. Electr. Insul, vol. 18, no. 3, pp. 910-917, 2011 A. Shemshadi, A. Salavati, A. Akbari, S. Mohammad Taghi Bathaee, “Dielectric recovery process in vacuum interrupters regarding to contact materials during post arc interval,” IEEE Trans. Dielectr. Electr. Insul, vol. 22, no. 5, pp. 3059-3064, 2015. J. Zhang, E. J. M. van Heesch, F. J. C. M. Beckers, A. J. M. Pemen, R. P. P. Smeets, T. Namihira, A. H. Markosyan, “Breakdown strength and dielectric recovery in a high pressure supercritical nitrogen switch,” IEEE Trans. Dielectr. Electr. Insul, vol. 22, no. 4, pp. 1823-1832, 2015. Z. Wang, G. Yingsan, L. Zhiyuan, “Stepwise behavior of free recovery processes after diffused vacuum arc extinction,” IEEE Trans. Dielectr. Electr. Insul, vol. 19, no. 2, pp. 582-590, 2012.

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