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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
오원욱 (전자부품연구원) 박노창 (전자부품연구원) 천성일 (전자부품연구원)
저널정보
한국태양광발전학회 한국태양광발전학회지 한국태양광발전학회지 제4권 제2호
발행연도
2018.8
수록면
14 - 24 (11page)

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The potential induced degradation (PID) phenomenon of crystalline silicon photovoltaic (PV) modules has been often found in outdoor PV systems until recently since firstly reported in 2010. Many studies have been conducted about the mechanism and the preventive methods, but systematic diagnosis of the PID has not been applied on-site. This paper focuses on analysis of 5 categories and 10 PID diagnosis methods using the monitoring data, light current-voltage, dark current-voltage, infrared and electroluminescence. We expect to contribute to improvement of power generation through PID diagnosis and troubleshooting in PV plants.

목차

요약
서론
PID 진단 방법
진단 방법의 비교
결론
참고문헌

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