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In this paper, four types of insulation coils were fabricated by adding various kinds of glycols to improve the flexibility and adhesion of insulating coils in varnish dispersed with PAI / Nano Silica_15wt%. The applied voltage and frequency were 1.5 kV / 20 kHz for accelerated life evaluation. Through the 6th temperature stress level, the cause of the insulation breakdown of the coil was ignored and only the breakdown time was measured. The Arrhenius model was chosen based on the theoretical relationship between chemical reaction rate and temperature for estimating the insulation life of the coil due to accelerated thermal stress. Three types of distributions (Weibull, Lognormal, Exponential) were selected as the relationship between thermal stress model and distribution. The average insulation lifetime was estimated under the temperature stress of four types of insulation coils through the relationship between one kind of model and three kinds of distributions.
목차
Abstract
1. 서론
2. Experiment
3. 결과 및 검토고찰
4 결론
Reference
참고문헌 (17)
참고문헌 신청
V. M. Montsinger / 1944 / Loading transformers by temperature / AlEE Trans 67:113~122
T. W. Daki / 1948 / Electrical insulation deterioration treated 8s a chemical rate phenomenon / AIEE Trans 67:113~122
W. Nelson / 1971 / Analysis of Accelerated Life Test Data –Part I/The Arrhenius Model and Graphical Methods / IEEE Trans. Electr. Insul 6:165~181
W. Nelson / 1972 / Analysis of Accelerated Life Test Data Part II / Numerical Methods and Test Planning / IEEE Trans. Electr. Insul 7:3655
L. Simoni / 1981 / A General Approach to the Endurance of Electrical Insulation under Temperature and Voltage / IEEE Trans. Electr. Insul 16:277~289
T. W. Daki / 1948 / Electrical insulation deterioration treated 8s a chemical rate phenomenon / AIEE Trans 67:113~122
W. Nelson / 1971 / Analysis of Accelerated Life Test Data –Part I/The Arrhenius Model and Graphical Methods / IEEE Trans. Electr. Insul 6:165~181
W. Nelson / 1972 / Analysis of Accelerated Life Test Data Part II / Numerical Methods and Test Planning / IEEE Trans. Electr. Insul 7:3655
L. Simoni / 1981 / A General Approach to the Endurance of Electrical Insulation under Temperature and Voltage / IEEE Trans. Electr. Insul 16:277~289
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