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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
김현용 (아이쓰리시스템) 정해 (금오공대)
저널정보
대한전기학회 전기학회논문지 P 전기학회논문지 제68P권 제2호
발행연도
2019.6
수록면
69 - 75 (7page)
DOI
10.5370/KIEEP.2019.68.2.069

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Alignment marker recognition is a widely used machine vision technology in production processes, and its core technology is to recognize a marker or a unique pattern rapidly and detect the angle and position of them. However, many small and medium-sized enterprises use imported equipments because they have no ability to implement them with low cost. The objective of this paper provides their necessary solution that processes recognition within 80 ms by using a low specification FPGA. To recognize the maker rapidly, an improved integral histogram with the limited mask size is proposed. Finally, we verify that the proposed algorithm detects the similarity and position of the marker by comparing the clustering among candidates within the limited time.
#Integral Histogram #Alignment Marker #Template Matching #Candidate Clustering

목차

Abstract
1. 서론
2. 얼라인먼트 마커 인식 알고리즘
3. 구현 검증 및 성능 분석
4. 결론
References

참고문헌 (11)

참고문헌 신청
Keyence, “Machine Vision System,“ Available in https://www.keyence.co.kr/products/vision/vision-sys/index.jsp Azbil Corporation, “Banrigan Series: Image Sensor for Position Decision,” Available in http://www.azbil. com/ N. Bellas, S. M. Chai, M. Dwyer, and D. Linzmeier, “FPGA Implementation of a License Plate Recognition SoC Using Automatically Generated Streaming Accelerators,” Proceeding of 20th IEEE International Parallel & Distributed Processing Symposium, 25-29 April. 2006. google schola C. B. Moon, Y. H. Ahn, H. Y. Lee, B. M. Kim and D. W. Oh, “Implementation of Automatic Detection System for CCFL's Defects based on Combined Lighting,” Journal of the Korea Society Industrial Information System, vol. 15, no. 2, pp. 69-81, June. 2010. google schola R. Brunelli, Template Matching Techniques in Computer Vision: Theory and Practice, Wiley, ISBN 978-0-470-51706-2, 2009. google schola

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