Incremental Model-based Test Suite Reduction with Formal Concept Analysis

Pin Ng; Richard Y. K. Fung; Ray W. M. Kong

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자료유형: 학술저널

저자정보: Pin Ng Richard Y. K. Fung Ray W. M. Kong

저널정보: 한국정보처리학회 JIPS(Journal of Information Processing Systems) JIPS(Journal of Information Processing Systems) 제6권 제2호

발행연도: 2010.1

수록면: 197 - 208 (12page)

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Test scenarios can be derived based on some system models for requirements validation purposes. Model-based test suite reduction aims to provide a smaller set of test scenarios which can preserve the original test coverage with respect to some testing criteria. We are proposing to apply Formal Concept Analysis (FCA) in analyzing the association between a set of test scenarios and a set of transitions specified in a state machine model. By utilizing the properties of concept lattice, we are able to determine incrementally a minimal set of test scenarios with adequate test coverage.

#Test Suite Reduction #Model-based Testing #State Machine Model #Formal Concept Analysis

참고문헌 (16)

참고문헌 신청

B. Broekman / 2003 / Testing Embedded Software / Addison-Wesley

B. Ganter / 1999 / Formal Concept Analysis: Mathematical Foundations / Springer-Verlag

C. Carpineto / 2004 / Concept Data Analysis: Theory and Applications / Wiley

G. Rothermel / 2001 / Prioritizing Test Cases for Regression Testing / IEEE Transactions of Software Engineering 27 (10) : 929 ~ 948

J. Offutt / 2003 / Generating Test Data from State-based Specifica-tions / Software Testing, Verification and Reliability 13 (1) : 25 ~ 53

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