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저널정보
한국산업경영시스템학회 산업경영시스템학회지 산업경영시스템학회지 제30권 제3호
발행연도
2007.1
수록면
28 - 36 (9page)

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Process Capability indices (PCIs) have been widely used in manufacturing industries to provide a quantitative measure of process performance. PCIs have been developed to represent process capability more exactly. In the previous studies, only one designated location on each part is measured. But even though in single process, multiple measurement locations on each part are required to calculate the reliable process capability. In this paper, we propose a new process capability index with multiple measurement locations on each part. We showed numerical examples and sensitivity analysis according to the number of measurement locations.
#Multiple Measurement Locations #System Process Capability

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/ 1990 / Communication in Statistics bivariate (rmal distribution) : 2529 ~ 2547 google schola / 1992 / Distributional and Inferential Properties of Process Capability Indices Journal of Quality Technology : 216 ~ 231 google schola Benson / 1994 / Statistical Properties of a System of Fourth-Generation Process Capability Indices Cpsk University of Maryland google schola Chan / 1988 / A New Measure of Process Capability Journal of Quality Technology : 162 ~ 175 google schola Chan / 1991 / A Multivariate Measure of Process Capability International Journal of Modeling and Simulation : 1 ~ 6 google schola

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