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한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 전기전자재료학회논문지 제17권 제6호
발행연도
2004.1
수록면
641 - 646 (6page)

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We report the changes of the microwave reflection coefficients S11 of copper(II)-phthalocyanine (CuPc) thin films by using a near-field microwave microscope(NSMM) in order to understand the phase transition of CuPc. For a NSMM system, a high-quality microstrip resonator coupled with a dielectric resonator was used. CuPc thin films were prepared on the pre-heated glass substrates using a thermal evaporation method. The reflection coefficients S11 of CuPc thin films were changed by the dependence on the substrate pre-heating temperatures. By comparing reflection coefficient S11 and crystal structures, we found the phase transition of CuPc thin films from α-phase to β-phase at the substrate heating temperature 200 ℃.
#Scanning electron microscope1. 서 론攀1. 서강대학교 물리학과 #서울시 마포구 신수동1)2. 군산대학교 물리학과3. 대진대학교 물리학과 a. Corresp #Near-field scanning microwave microscope #NSMM) #Reflection coefficient S11 #X-ray diffraction #Copper #II)-phthalocyanine thin film #Phase transition

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참고문헌 (9)

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/ 1989. / JCPDS Powder Diffraction File google schola / 1994. / 프탈로시아닌계 광전도성 유기박막의 제조에 관한 연구 7 (5) : 409 ~ google schola / 1999. / Evanescent microwave probes on high-resistivity silicon and its application in characterization of semiconductors 70 : 3083 ~ google schola / 2000. / Studies on phase transitions of Cu-phthalocyanine thin films 11 : 331 ~ google schola / 2003. / "기판 예열 온도에 따른 Copper(II) phthalocyanie의 phase 변화 및 박막의 결정 변화 : 1014 ~ google schola

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