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한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 전기전자재료학회논문지 제18권 제3호
발행연도
2005.1
수록면
226 - 230 (5page)

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This paper describes the photocatalytic degradation properties by oxygen partial pressure for TiO2 thin films fabricated by dc magnetron reactive sputtering. And the structural, chemical, optical and photocatalytic properties were investigated at various analysis system. When TiO2 thin film was made at deposition time of 120 min and Ar:O2 ratio of 60:40, the best properties were obtained. That results were as follows: thickness; 360~370 nm, grain size; 40 nm, optical energy band gap; 3.4 eV and Benzene conversion in the photocatalytic degradation; 11 %.

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