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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
저널정보
한국현미경학회 한국현미경학회지 한국현미경학회지 제38권 제4호
발행연도
2008.1
수록면
363 - 374 (12page)

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In this paper we have examined the usefulness of IWFR (the iterative wave-function reconstruction) analysis for through- focal series of high-resolution images for a relative thick crystal. In the work we employed JEOL ARM 1300S, and observed the high-resolution images for a Si crystal at the two orientations of [01-1] and [11-2] having 30 nm and 35 nm thickness respectively. As a result of applying IWFR method on the images we found out that even for a thick crystal by the method we can retrieve the exit-surface wave function. However because of the strong dynamical scattering effect, the image pattern of the function reflects only qualitatively the atomic column structure of the crystal examined. Nevertheless it is no doubt that the pattern would give important clue for the crystal structure.

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