메뉴 건너뛰기
.. 내서재 .. 알림
소속 기관/학교 인증
인증하면 논문, 학술자료 등을  무료로 열람할 수 있어요.
한국대학교, 누리자동차, 시립도서관 등 나의 기관을 확인해보세요
(국내 대학 90% 이상 구독 중)
로그인 회원가입 고객센터 ENG
주제분류

추천
검색
질문

논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
저널정보
한국진공학회(ASCT) Applied Science and Convergence Technology 한국진공학회지 제5권 제2호
발행연도
1996.6
수록면
99 - 106 (8page)

이용수

표지
📌
연구주제
📖
연구배경
🔬
연구방법
🏆
연구결과
AI에게 요청하기
추천
검색
질문

초록· 키워드

오류제보하기
각분해 X-선광전자분광법 데이터로부터 화학종의 깊이분포에 대한 정보를 얻기 위한 두가지 종류의 regularization 방법 (singular system과 HMP 방법)을 연구하였다. 두 방법은 매우 다른 알고리즘을 채택하고 있지만 정성적으로 유사한 결과를 보였다. 시뮬레이션을 통하여 ARXPS 데이터에 regularization 방법을 적용 하였을 때 복잡한 형태의 깊이분포를 가진 시료에 대하여 유용함을 알 수 있었다. 이방법으로부터 상당한 양의 실험오차를 가지고 있는 데이터로부터 의미 있는 깊이분포를 얻을 수 있었다. generalized cross-validation 방법을 이용하여 ARXPS 데이터로부터 regularization 방법에서 중요한 변수인 smoothing parameter 값의 최적치를 자동으로 구하도록 하였다.

목차

Abstract

요약

1. Introduction

2. Results and Discussion

3. Conclusions

References

참고문헌 (0)

참고문헌 신청

함께 읽어보면 좋을 논문

논문 유사도에 따라 DBpia 가 추천하는 논문입니다. 함께 보면 좋을 연관 논문을 확인해보세요!

이 논문의 저자 정보

최근 본 자료

전체보기

댓글(0)

0

UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2019-420-001260918