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Dong Chang Han (Myongji University) Deok Jin Jang (Myongji University) Jae Yoon Lee (Gachon University) Seongjae Cho (Gachon University) Il Hwan Cho (Myongji University)
저널정보
대한전자공학회 JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE Journal of Semiconductor Technology and Science Vol.20 No.2
발행연도
2020.4
수록면
145 - 150 (6page)
DOI
10.5573/JSTS.2020.20.2.145

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This paper proposes a one transistor dynamic random access memory (1T DRAM) with localized partial insulator (LPI) to increase data retention time. Proposed 1T DRAM cell is based on twin gate tunneling field effect transistor (TGTFET) and has improved retention characteristics with LPI. The LPI inhibit stored carrier movement with high energy barrier. Key process sequence is suggested and device optimizations with parameter variation are also investigated with device simulation. As the barrier length increases, retention characteristics can be improved but also it causes a decrease in the read 1 current. An increase in LPI length within the appropriate range is required in the proposed 1T DRAM.

목차

Abstract
I. INTRODUCTION
II. DEVICE STRUCTURE
III. RESULTS AND DISCUSSIONS
IV. CONCLUSION
REFERENCES

참고문헌 (7)

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