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논문 기본 정보

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저자정보
신형섭 (안동대학교) 오상수 (안동대학교 기계공학) 하동우 (한국전기연구원 초전도응용연구팀)
저널정보
한국초전도저온학회 한국초전도저온공학회 학술대회 한국초전도저온공학회 2003년도 추계학술대회 논문집
발행연도
2003.1
수록면
134 - 138 (5page)

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The influences of mixed mode of bending-tension on the Ic degradation and their interaction on the strain effect were evaluated in this study. A test fixture which applies a mixed deformation mode of bending-tension to HTS tapes has been newly devised. When the strain induced in the tape due to the mixed deformation mode was expressed as a total tensile strain, the irreversible strain to the critical current degradation of Bi-2223 tapes increased when compared with the case of simple bending mode, and the value at both ends were larger than that at the central region of the bend part. The Ic degradation behavior at the region exceeding the irreversible strain showed quiet a rapid drop of the Ic when compared with the simple bending cases. As the applied bending strain increased namely as the diameter of mandrel adopted decreased, the apparent irreversible strain of Bi-2223 tapes increased However, the increment decreased as the mandrel diameter decreased. As a result, it could be found that the tension to be applied to the Bi-2223 tapes during cabling of HTS tapes should be smaller, as the mandrel diameter becomes smaller.

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