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Allee, D.R. (Flexible Display Center at Arizona State University) Venugopal, S.M. (Flexible Display Center at Arizona State University) Shringarpure, R. (Flexible Display Center at Arizona State University) Kaftanoglu, K. (Flexible Display Center at Arizona State University) Uppili, S.G. (Flexible Display Center at Arizona State University) Clark, L.T. (Flexible Display Center at Arizona State University) Vogt, B. (Flexible Display Center at Arizona State University) Bawolek, E.J. (Flexible Display Center at Arizona State University)
저널정보
한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2008년도 International Meeting on Information Display
발행연도
2008.1
수록면
1,297 - 1,300 (4page)

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Electrical stress degradation of low temperature, amorphous silicon thin film transistors is reviewed, and the implications for various types of flexible circuitry including active matrix backplanes, integrated drivers and general purpose digital circuitry are examined. A circuit modeling tool that enables the prediction of complex circuit degradation is presented.
#flexible display #amorphous silicon #TFT

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