Analysis and Remedy of TFT Based Current Mode Logic Circuit Performance Degradation due to Device Parameter Fluctuation

Lee, Joon-Chang; Jeong, Ju-Young

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자료유형: 학술대회자료

저자정보: Lee, Joon-Chang (Dept. of Electronic Engineering, The University of Suwon) Jeong, Ju-Young (Dept. of Electronic Engineering, The University of Suwon)

저널정보: 한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2005년도 International Meeting on Information Displayvol.I

발행연도: 2005.1

수록면: 535 - 538 (4page)

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We report the influence of the threshold voltage and mobility fluctuation in TFT on current mode digital circuit performance. We found that the threshold voltage showed more serious circuit malfunction. We studied new circuit configuration for improvement.

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Lee, Joon-Chang

소속기관 Department of Electronic Engineering, The University of Suwon

주요연구분야 공학 > 전기전자공학 > 전기공학

논문수 2 이용수 3

Jeong, Ju-Young

소속기관 Department of Electronic Engineering, University of Suwon

주요연구분야 공학 > 전기전자공학 > 전기공학

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