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학술대회자료
저자정보
Jeong, Young-Min (Dept. of Materials Science and Engineering, Yonsei University) Song, Keun-Kyu (Dept. of Materials Science and Engineering, Yonsei University) Kim, Dong-Jo (Dept. of Materials Science and Engineering, Yonsei University) Koo, Chang-Young (Dept. of Materials Science and Engineering, Yonsei University) Moon, Joo-Ho (Dept. of Materials Science and Engineering, Yonsei University)
저널정보
한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2009년도 9th International Meeting on Information Display
발행연도
2009.1
수록면
1,582 - 1,585 (4page)

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The effects of bias stress on spin-coated zinc tin oxide (ZTO) transistors are investigated. Applying a positive bias stress results in the displacement of the transfer curves in the positive direction without changing the field effect mobility or the subthreshold behavior. Device instability appears to be a consequence of the charging and discharging of temporal trap states at the interface and in the zinc tin oxide channel region.
#bias stress #zinc tin oxide #amorphous oxide semiconductor

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