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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
김두현 (충북대학교 안전공학과) 김상렬 (안동과학대학 산업안전위생과)
저널정보
한국안전학회 한국안전학회지 한국안전학회지 제14권 제3호
발행연도
1999.1
수록면
69 - 77 (9page)

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As the use of automatic handling equipment for sensitive semiconductor devices is rapidly increased, manufacturers of electronic components and equipment need to be more alert to the problem of electrostatic discharges(ESD). Semiconductor devices such as IC, LSI, VLSI become a high density pattern of being more fragile by ESD phenomena. One of the most common causes of electrostatic damage is the direct transfer of electrostatic charge from the human body or a charged material to the electrostatic discharge sensitive devices. Accordingly, characteristics of electrostatic attenuation in domestic semiconductor devices is investigated to evaluate the ESD phenomina in the semiconductors in this paper. The required data are obtained by Static Honestmeter. Also The results in this paper can be used for the prevention of semiconductor failure by ESD.

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