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학술대회자료
저자정보
Parikh, Kunjal (Samsung Electronics Co., LCD R&D Center, LCD Business) Chung, Kyu-Ha (Samsung Electronics Co., LCD R&D Center, LCD Business) Choi, Beom-Rak (Samsung Electronics Co., LCD R&D Center, LCD Business) Goh, Joon-Chul (Samsung Electronics Co., LCD R&D Center, LCD Business) Huh, Jong-Moo (Samsung Electronics Co., LCD R&D Center, LCD Business) Song, Young-Rok (Samsung Electronics Co., LCD R&D Center, LCD Business) Kim, Nam-Deog (Samsung Electronics Co., LCD R&D Center, LCD Business) Choi, Joon-Hoo (Samsung Electronics Co., LCD R&D Center, LCD Business)
저널정보
한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2006년도 6th International Meeting on Information Display
발행연도
2006.1
수록면
1,701 - 1,703 (3page)

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Here we describe a novel driving scheme in the form of negative AC bias stress (NAC) to compensate shift in the threshold voltage for hydrogenated amorphous silicon (${\alpha}$-Si:H) thin film transistor (TFT) for AMOLED applications. This scheme preserves the threshold voltage shift of ${\alpha}$-Si:H TFT for infinitely long duration of time(>30,000 hours) and thereby overall performance, without using any additional TFTs for compensation. We briefly describe about the possible driving schemes in order to implement for real time AMOLED applications. We attribute most of the results based on concept of plugging holes and electrons across the interface of the gate insulator in a controlled manner.

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