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Lee, Hun-Jung (Corporate R&D Center, Samsung SDI Co., LTD.) Kim, Sung-Jin (Corporate R&D Center, Samsung SDI Co., LTD.) Lee, Sang-Min (Corporate R&D Center, Samsung SDI Co., LTD.) Ahn, Taek (Corporate R&D Center, Samsung SDI Co., LTD.) Park, Young-Woo (Corporate R&D Center, Samsung SDI Co., LTD.) Suh, Min-Chul (Corporate R&D Center, Samsung SDI Co., LTD.) Mo, Yeon-Gon (Corporate R&D Center, Samsung SDI Co., LTD.) Chung, Ho-Kyoon (Corporate R&D Center, Samsung SDI Co., LTD.)
저널정보
한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2005년도 International Meeting on Information Displayvol.II
발행연도
2005.1
수록면
1,361 - 1,363 (3page)

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In this paper, we report on the performance stability of solution processible OTFT devices with Au/Ti and ITO source-drain (S/D) electrodes. It appears that the contact resistance of the S/D electrode strongly affects the stability of OTFT devices. Interestingly, the devices with the Au/Ti electrode showed lower mobility than those with the ITO (S/D) devices. The field effect mobilities of the devices with the Au/Ti and ITO electrodes were 0.06, and $0.44cm^2/Vs$, respectively. However, the mobility of the device with the Au/Ti electrode was increased up to $0.26cm^2/Vs$ after 2 weeks, while the mobility of the device with ITO electrode was slightly decreased down to $0.41cm^2/Vs$. The experimental data show us that ITO could be used as the S/D electrode for low-cost OTFT devices.

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