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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
이태경 (연세대학교 기계공학과) 한재원 (연세대학교 기계공학과)
저널정보
정보저장시스템학회 정보저장시스템학회논문집 정보저장시스템학회논문집 제5권 제2호
발행연도
2009.1
수록면
89 - 95 (7page)

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We setup the system to measure the noise characteristics of the 5M complementary metal-oxide semiconductor (CMOS) image sensor by generic measurement indicator of Standard mobile imaging architecture (SMIA) which is one of internal standard of mobile imaging architecture. To evaluate the effect of environment and setting parameters, such as temperature and integration time, we measure the variation of the dark signal, dynamic range and fixed pattern noise of image sensor. We also detect the number of defective pixels and cluster defects defined as adjacent single defect pixels at 5M CMOS image sensor. Then, we find the existence of some cluster defects in experiment, which are not expected in calculation.
#image sensor #noise characteristic #dynamic range #defective pixel #cluster defect

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